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2019年8月22日(木)
6857 : 製造用機械・電気機械
東証1部
日経平均採用 JPX日経400採用

【半導体テスター大手】先端技術でリード。DRAM向けで首位。

現在値(15:00):
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プレスリリース

1~20件目を表示(全27件)

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発表日 表題
19/6/26 アドバンテスト、「V93000」テストプラットフォーム用高速試験用計測器をMultiLane社と開発
19/5/14 アドバンテスト、「V93000」の機能拡張ソフトウエア「SmartShell」を発表
19/5/9 アドバンテスト、無線データロガー「AirLogger WM2000」シリーズから「3ch 動ひずみ測定ユニット」を発売
19/5/8 アドバンテスト、テスト・システム「T2000」GPWGDモジュールのHigh-Resolution Versionを発表
19/5/7 アドバンテスト、5G-NRデバイス向け「V93000 Wave Scale Millimeter」ソリューションを発表
19/3/12 アドバンテスト、「V93000 Wave Scale RF」がAIoTデバイスの量産テストに採用
19/2/18 アドバンテスト、無線データロガー「AirLogger」WM2000シリーズの海外対応を拡大
19/1/22 アドバンテスト、光超音波顕微鏡「Hadatomo Z」を発売
19/1/7 アドバンテスト、「AirLogger」シリーズの海外対応を拡充
18/12/5 アドバンテスト、東北大と「スピン注入型磁気ランダム・アクセス・メモリ(STT-MRAM)」の高速動作実証実験に成功
18/11/29 アドバンテスト、フォトマスク用MVM-SEM「E3650」を発表
18/11/27 アドバンテスト、高速NAND向けシステムレベル・テスト・システム「T5851 STM16G」を発表
18/11/21 アドバンテスト、計測システム「EVA100」の高電圧半導体向け新モジュールを発表
18/11/15 アドバンテスト、米国Astronics社のシステムレベルテスト事業譲受で合意
18/10/31 アドバンテスト、東北大とメモリ・テスト・システムによる磁気ランダム・アクセス・メモリのスイッチング電流測定技術を確立
18/10/30 アドバンテスト、Cloud Testing Service社がパターン変換ソフト「TesterBridge」を発表
18/10/30 アドバンテスト、DCパラメトリック・テスタ「V93000 SMU8」を発表
18/10/24 アドバンテスト、メモリ・バーンイン・テスタ「B6700」シリーズの新機種を発表
18/10/12 東北大とアドバンテストなど、皮膚内の微小血管を非侵襲で可視化-光超音波と超音波を同時に計測が可能に
18/10/10 アドバンテスト、NANDフラッシュ・DRAM向け最新メモリ・バーンイン・テスタ「B6700D」を発表
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