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アドバンテスト、メモリ・バーンイン・テスタ「B6700」シリーズの新機種を発表

2018/10/24 17:15
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発表日:2018年10月24日

メモリ・バーンイン・テスタ「B6700」シリーズに新機種登場

「B6700L」は測定温度範囲が拡大し、「B6700S」はゼロ・フットプリントを実現

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、メモリ・バーンイン・テスタ「B6700」シリーズの新機種を発表しました。今回新たにラインアップに加わった「B6700L」と「B6700S」により、現在サーバやモバイル機器向けに需要が拡大しているNANDフラッシュメモリのバーンイン試験の時間と費用を大幅に削減することができます。

2018年10月10日に発表した「B6700D」は、既存の「B6700」と比べてドライバ・ピンの数と電源電流性能がそれぞれ2倍になりましたが、「B6700L」は、それに加えて-40℃~150℃という広範囲の温度で高精度な試験が可能となり、車載用フラッシュメモリの量産バーンイン試験や、開発段階のフラッシュメモリの信頼性評価用として最適です。

また「B6700S」は、「B6700D」の測定部をそのまま他社のマルチウエハ・プローバに組み込めるようにしたもので、追加のスペースを必要とせず(「ゼロ・フットプリント」)、パッケージングする前のウエハ段階で初期不良を検出するウエハレベル・バーンインを行うことができます。

「B6700」シリーズは全ての機種で共通のOSを使用しており、テストプログラムの互換性が保たれています。「B6700L」と「B6700S」は2019年1~3月期に出荷開始予定です。

*製品画像は添付の関連資料を参照

※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。

リリース本文中の「関連資料」は、こちらのURLからご覧ください。

製品画像

http://release.nikkei.co.jp/attach_file/0493996_01.JPG

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