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アドバンテスト、NANDフラッシュ・DRAM向け最新メモリ・バーンイン・テスタ「B6700D」を発表

2018/10/10 16:45
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発表日:2018年10月10日

NANDフラッシュ、DRAM向け最新メモリ・バーンイン・テスタ「B6700D」を発表

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、次世代のメモリ・バーンイン・テスタ「B6700D」を発表しました。メモリ市場が「スーパー・サイクル」に入りテスト需要が増加する中、バーンイン工程を高スループット化することにより、テストコスト削減を実現します。

「B6700D」は、最大10MHzの速度で最大48枚のバーンイン・ボードを並列にテストできます。顧客はテストコストを削減するとともに、新製品をより早く市場投入することが可能になります。従来機種に比べ、1枚のバーンイン・ボード毎に最大2倍となる256Aの電源電流を供給できるとともに、ドライバ・ピンも2倍になり高速テストが可能になります。

将来、NANDの多層化がさらに進んだとしても、同時測定個数が減ることはありません。また、チャンバーは0.1℃単位で制御が可能です。

「B6700D」は従来機種の「B6700」と同じOSを使用しており互換性があります。Bad block memory(BBM)、Universal buffer memory(UBM)、Data pattern memory(DPM)機能もサポートしており、NANDフラッシュ試験に最適です。

「B6700D」は、すでに顧客への出荷を開始しています。

*製品画像は添付の関連資料を参照

※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。

リリース本文中の「関連資料」は、こちらのURLからご覧ください。

製品画像

http://release.nikkei.co.jp/attach_file/0492798_01.JPG

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