2019年9月22日(日)

プレスリリース

企業名|産業
アドバンテスト機械

アドバンテスト、「V93000」テストプラットフォーム用高速試験用計測器をMultiLane社と開発

2019/6/26 17:05
保存
共有
印刷
その他

発表日:2019年6月26日

「V93000」テストプラットフォーム用高速試験用計測器をMultiLane社と開発

50GHz帯域の新しい計測器により112Gbps(PAM4)の高速デジタルとアナログ試験に対応

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)は、次世代デジタル高速インターフェースをコスト効率良く試験できる「V93000」テストプラットフォーム用の計測器をMultiLane社と共同開発しました。この計測器は、50GHz帯域のスコープ分析能力を持ちつつ、PAM4(*)方式で最大112Gbps、NRZ(*)方式で最大56Gbpsのテストデータレートを供給します。被測定デバイス(DUT)の近くに高周波数のリソースを配置することにより、シグナルインテグリティとテスト精度が大幅に向上しました。

AIやデータセンターなどで使用される次世代デバイスの試験に最適な、真に革新的なソリューションを提供するために、2社のリソースが結集しました。この新しい計測器は、「V93000」のデジタル・アナログの最高周波数限界を、最新の通信インフラの開発に不可欠なレベルにまで拡張します。また、このコラボレーションは、これまでの自動試験装置(ATE)ソリューションの枠を超え、ATEのDUTボードをMultiLane社の高周波数計測器と一緒にテストベンチで使用したり、テストベンチ用の計測やキャラクタリゼーション・ツールをATEで使用することができます。さらに、統合されたソフトウエア環境は、ベンチ装置の柔軟性とインタラクティブ性を保ちつつ、量産環境で計測器を制御管理可能にしました。

この新しい計測器は、MultiLane社が販売、サポートします。すでに複数の顧客と商談が進んでいます。

*PAM4,NRZ:データ伝送方式の一つ

■MultiLane社について

製品テストおよび測定機器の大手プロバイダーであるMultiLane社は、112Gbpsデバイスのatspeed実ウェハスケールテストおよび最終パッケージテストを提供しています。MultiLaneは、10Gbpsから400Gbpsまでのデータレート用の相互接続機器と計測器を開発しています。製品には、BERT、TDR、光および電気オシロスコープ、光スイッチボックス、またQSFP28、QSFP-DD、OSFPやその他の規格用のMSA準拠の開発ツールなどが含まれています。MultiLaneはまた、コンプライアンステストサービスと完全に自動化されたテストソリューションを提供しています。さらに、MultiLaneは、AdvantestのV93000プラットフォームなどの実ウェーハスケールの自動テストシステムに適合する高速ATEモジュールを開発しています。MultiLaneの製品は、半導体、DAC、トランシーバ、およびシステムブレードのテストに使用されています。

詳しくは https://multilaneinc.com/ を参照ください。

※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。

保存
共有
印刷
その他

電子版トップ速報トップ



[PR]

日本経済新聞社の関連サイト

日経IDの関連サイト

日本経済新聞 関連情報

新しい日経電子版のお知らせ

より使いやすく、よりビジュアルに!日経電子版はデザインやページ構成を全面的に見直します。まず新たなトップページをご覧いただけます。

※もとの電子版にもすぐ戻れます。