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アドバンテスト、5G-NRデバイス向け「V93000 Wave Scale Millimeter」ソリューションを発表

2019/5/7 17:15
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発表日:2019年5月7日

最大70GHzの5G-NRデバイス向け「V93000 Wave Scale Millimeter」ソリューションを発表

マルチバンド周波数デバイスを多数同時並列で測定可能

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、5G(第5世代移動通信システム)で使用される多様な周波数帯のRFデバイス/モジュール向けの新しい測定ソリューション「V93000 Wave Scale Millimeter」を発表しました。「V93000 Wave Scale Millimeter」ソリューションは、マルチバンドのミリ波周波数帯(mmWave)のデバイスを測定するために必要な高いマルチサイト測定性能と汎用性を持ち合わせています。24GHz~44GHzと57GHz~70GHzを1台ですべてカバーでき、お客様のコスト削減と製品早期市場投入を可能にします。

これまでのソリューションとの大きな違いは、モジュラー方式のmmWave双方向ポートを最大64持っていることです。このため、5GやWiGigの異なる周波数のデバイス/モジュールだけでなく、将来測定が必要になる周波数帯でも使用することができます。計測器を使用した高価な高性能実験用設備の性能を、費用対効果の高い汎用ATE装置で実現しました。スケーラブルなシステムは広帯域のテストが可能で、UWB(ultra-wideband)のフルレート変調/復調試験をはじめ、5G-NR mmWaveでは最大1GHz、WiGig(802.11ad/ay)では最大2GHzの変調/復調試験が可能です。さらに、AiP(antenna-in-package)デバイスのビームフォーミング試験、OTA(over-the-air)試験が可能です。

既に数社で5GとWiGigのマルチバンドデバイス測定で先行して使用されていますが、今回正式注文の受付を開始しました。

※本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。

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